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掲載日:2019年8月10日

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公益財団法人JKA補助事業(整備機器・共同研究)の紹介

【更新履歴】平成30年度共同研究を更新しました。

【更新履歴】平成30年度新規導入機器を更新しました。

当センターでは、公益財団法人JKAの「公設工業試験研究所等の補助事業」(オートレースの補助金)を利用し、機器整備、共同研究を行っています。

公益財団法人JKA 競輪・オートレース補助事業ホームページ
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平成30年度 共同研究 

平成30年度に、公益財団法人JKAの「公設工業試験研究所等が主体的に取組む共同研究補助事業」(オートレースの補助金)を利用して実施した研究についてご紹介します。

普及型水蒸気透過度測定装置の開発新規・更新箇所

概要

水蒸気透過度測定のカップ秤量作業を自動化した、安価かつ短時間測定可能な測定装置を開発した。カップ法の測定下限値といわれる1 g/(m2・24h)のポリテトラフルオロエチレンフィルムを測定したところ、従来の手作業による測定値とおおむね一致した値が得られ、さらに従来法では測定に24日を要したが本装置はこれを4日で測定可能とした。

研究報告 概要(普及型水蒸気透過度測定装置の開発)(PDF:225KB) 

平成30年度 整備機器

平成30年度に、公益財団法人JKAの「公設工業試験研究所設備拡充補助事業」(オートレースの補助金)を利用して整備した機器についてご紹介します。

FT-NMR装置新規・更新箇所

以下の機器の利用を開始いたしました。ご利用にあたっての詳しい情報は依頼試験・機器利用の個別ページをご覧ください。

【問い合わせ先】
技術支援室 化学技術担当
電話:048-265-1421 E-mail:sien@saitec.pref.saitama.jp

メーカー

型式

Bruker BioSpin社 AVANCE NEO 500

装置概要 主として分子構造などを解析するために、化学薬品などを測定する機器です。溶液・固体を問わず、有機低分子、天然物、無機材料、高分子化合物などが測定できます。化学原料や合成開発品の確認試験、不純物の構造推定など、化成品の評価に役立ちます。
主な仕様 【磁場強度】11.74T(1H共鳴周波数 500MHz)
【検出核(液体試料)】1H/19F-199Hg,17O-109Ag
【検出核(固体試料)】1H,19F/31P-15N
【測定対象】液体・半固体・固体
装置写真


装置全体


超電導磁石


分光計

平成29年度 共同研究

平成29年度に、公益財団法人JKAの「公設工業試験研究所等が主体的に取組む共同研究補助事業」(オートレースの補助金)を利用して実施した研究についてご紹介します。

電気化学プロファイルを利用した迅速・簡便な小型水質評価システムの開発

概要

微分パルスボルタンメトリで得られる電気化学プロファイルのパターン評価による新規な水質評価解析システムの構築を目指している。適用分野の一例として、飲料デイスペンサーやカップ式飲料自販機の設備管理を目的に、15分に1検体のペースで計測可能な、携帯型水質評価装置を試作した。電極、計測条件、検体前処理方法などについて検討し、各種飲料に含まれる有機酸類や糖類を指標として飲料水の種類判別や濃度評価を可能とした。

研究報告(電気化学プロファイルを利用した迅速・簡便な小型水質評価システムの開発)

平成29年度 整備機器

平成29年度に、公益財団法人JKAの「公設工業試験研究所設備拡充補助事業」(オートレースの補助金)を利用して整備した機器についてご紹介します。

電磁波試験測定装置(EMS)

以下の機器の利用を開始いたしました。利用料金は下記のとおりとなります。

【問い合わせ先】
技術支援室 電気・電子技術担当
電話:048-265-1421
E-mail sien@saitec.pref.saitama.jp

主な
用途
  • IEC 60601-1-2:2014 第4版 IEC61000-4-3 放射イミュニティ試験対応
  • 試作機器・開発製品のEMC試験、電磁波対策
  • 電子機器の放射無線電磁界の耐性確認
電磁波試験測定装置(EMS)
装置概要 本試験器は医用電気機器のEMCに関する国際規格にて義務付けられている周波数80MHz~6GHzにも対応した、放射無線周波電磁界イミュニティ試験装置です。
電子機器が受けるノイズの影響や電磁波の耐性を確認することが可能となります。
仕様 対応規格:IEC 60601-1-2:2014 第4版、IEC61000-4-3
対応周波数:80MHz~6GHz
対応電磁界強度:1~10V/m
利用対象 依頼試験・機器開放

平成28年度 共同研究

平成28年度に、公益財団法人JKAの「公設工業試験研究所等における共同研究補助事業」(オートレースの補助金)を利用して実施した研究についてご紹介します。

新機構を用いた超高分解能リニアモータの実用化に関する研究

概要

近年のハイテク機器用部品の生産技術やナノテクノロジー研究開発の進展にともない、
ナノメータ位置制御の必要性はますます高まっている。
このような中、高分解能かつ小型化に有利なピエゾ素子がますます重要となっており、高付加価値製品を生み出す製造・検査・分析機器には 欠かせない存在となっている。ピエゾ素子を使った、ストロークを大きくする技術としてインパクトドライブモータがあるが、このモータは仕組み上大きな推力を得ることができないため、利用用途を限定する要因となり普及の足かせとなっている。そこで、大きな発生力をダイレクトに推力とする新しい機構のリニアモータを開発し、実用化をにらんだ簡素・コンパクトな実用的超精密位置決め用のリニアモータを開発する。

研究報告(新機構を用いた超高分解能リニアモータの実用化に関する研究)

平成28年度 整備機器

平成28年度に、公益財団法人JKAの「公設工業試験研究所設備拡充補助事業」(オートレースの補助金)を利用して整備した機器についてご紹介します。

インクジェット式カラー積層造形装置(3Dプリンタ)

以下の機器の利用を開始いたしました。利用料金は下記のとおりとなります。

【機器開放】インクジェット式カラー積層造形装置 1時間 2,810円

※上記機器利用料のほか、造形に必要な樹脂消耗品費や、職員の運用に関する費用が別途かかります。また、造形にかかる費用や日数は、ご依頼の内容により異なります。
詳しくは下記担当にお問い合わせください。

【問い合わせ先】
技術支援室 機械技術担当
電話:048-265-1376
E-mail sien@saitec.pref.saitama.jp

メーカー
型式
Stratasys社 Objet260 Connex3 インクジェット式カラー積層造形装置
装置概要 本装置は、3種類のモデル材料をミックスして一度に造形ができる3Dプリンタです。カラー(シアン、マゼンダ、イエロー)、ゴムライク、透明、PP、耐熱、硬質のモデル材から3種類をミックスさせ、硬さや透明度、彩度、物性の異なる材料を再現できます。
最終製品により近い試作モデルの製作をすることで、開発プロセスの短縮に貢献します。
仕様 【造形モデル材】
硬質樹脂、PPライク樹脂、カラー樹脂、透明樹脂、ゴムライク樹脂、ABSライク樹脂
【造形サイズ】
(X)255mm×(Y)252mm×(Z)200mm
【造形解像度】
X軸:600dpi Y軸:600dpi Z軸:1600dpi
【造形ピッチ(Z軸)】
16μm(HQモード)
30μm(HSモード,DMモード)
利用対象 機器開放

平成27年度 共同研究

平成27年度に、公益財団法人JKAの「公設工業試験研究所等における共同研究補助事業」(オートレースの補助金)を利用して実施した研究についてご紹介します。

普及型超微小硬さ測定機の開発

概要

薄膜の機械的評価は、超微小硬さ測定が最も有効であると言われている。
近年、薄膜の高度化・高機能化によりますますの薄膜化が進み、それに伴い超微小硬さ測定機に求められるスペックもより高いものが要求されていて、高価な測定機となってしまっている。このため薄膜を開発する企業には、中小企業はもとより、大手企業においても、開発や品質管理において十分な台数の超微小硬さ測定機を確保することは困難である。そこで、従来機を大幅にコストダウンする「普及型超微小硬さ測定機」を開発する。

研究報告(普及型超微小硬さ測定機の開発)

平成27年度 整備機器

平成27年度に、公益財団法人JKAの「公設工業試験研究所設備拡充補助事業」(オートレースの補助金)を利用して整備した機器についてご紹介します。

全焦点三次元形状測定機(非接触微細三次元測定機)

以下の機器を北部研究所(熊谷)に導入しました。
ご利用にあたっての詳しい情報は依頼試験料金表(全焦点三次元形状測定機による測定)及び機器開放料金表(全焦点三次元形状測定機)をご覧ください。

メーカー
型式
アリコナイメージング社 インフィニートフォーカスG5 全焦点三次元形状測定機(非接触微細三次元測定機)
装置概要 本装置は、光学系のZ軸を走査しながらイメージセンサで連続して画像を取り込み、各ピクセル毎の焦点が合った像を合成して三次元画像を作成します。寸法、形状などの二次元、三次元解析をはじめ、エリア粗さ解析、差分形状解析などの高度な解析も可能です。また、複数の画像面をつなぎ合わせるステッチング測定や、回転ユニットを利用した全周測定も可能です。
仕様 【測定原理】
焦点移動法にもとづく光学式非接触3次元測定方式
【対物レンズ倍率】
×2.5~×100倍
【最大試料寸法】
高さ:100mm 重量:20kg(鏡面、透明体は不可)
【ストローク】
X軸:100mm Y軸:100mm Z軸:100mm
【水平分解能】7.04~0.44µm
【垂直分解能】2300~10nm
【視野範囲】
5.63×5.63平方ミリメートル~0.16×0.16平方ミリメートル
利用対象 依頼試験・機器開放

平成26年度 整備機器

平成26年度に、公益財団法人JKAの「公設工業試験研究所設備拡充補助事業」(オートレースの補助金)を利用して整備した機器についてご紹介します。

X線マイクロアナライザ(分析走査電子顕微鏡)

以下の仕様の機器を北部研究所(熊谷)に導入します。ご利用は、平成27年1月から順次開始いたします。
【依頼試験】

  • 分析走査電子顕微鏡(SEM-EDX)による定性分析 1試料1測定 14,600円(1測定を増すごとに3,950円)
  • 分析走査電子顕微鏡(SEM-EDX)によるマッピング分析 1試料1測定 20,600円

【機器開放】
1時間 3,640円

メーカー
型式
日本電子株式会社 JSM-IT300LA 分析走査電子顕微鏡(平成26年度整備)
装置概要 本装置は、試料表面の拡大像を観察したり未知物質を分析する装置です。
真空中で試料表面に電子ビームを照射し、試料から出てくる二次電子や反射電子及び特性X線などを測定することで、物質の表面形状や構成元素などを非破壊で観察及び分析することができます。
また、低真空モードに切り替えることにより、これまで観察が難しかった導電性の無い試料も観察することができます。
直径100mmを超える大型の試料にも対応可能なので、さまざまな大きさのサンプルを観察することができます。
仕様 【電子銃】
Wフィラメント
完全自動、手動調整可能
【倍率】×5~×300,000倍
【最大試料寸法(ロードロックチャンバー室寸法)】
120mm幅、25mm高
【低真空圧力設定範囲】
10~650Pa
【分析検出器】
エネルギー分散型X線分析装置
【検出可能元素】Be~U
活用事例
  • 金属の表面観察、破損、腐食生成物及び付着物等の解析、評価
  • プラスチック類の表面観察、付着物等の解析、評価
利用対象 依頼試験・機器開放

平成25年度 整備機器

平成25年度に、公益財団法人JKAの「公設工業試験研究所設備拡充補助事業」(オートレースの補助金)を利用して整備した機器についてご紹介します。

X線マイクロアナライザ(分析走査型電子顕微鏡)

依頼試験「X線マイクロアナライザ(走査型電子顕微鏡)による試験」で使用する装置について、以下の機器を追加導入しました。
機器開放利用については「X線マイクロアナライザ(分析走査型電子顕微鏡)(※分析装置としてのご利用の場合)」をご覧ください。

メーカー
型式
株式会社日立ハイテクノロジーズ
SU3500
分析機能付き走査型電子顕微鏡(平成25年度整備)
装置概要 本装置は、試料表面の拡大像を観察したり未知物質を分析する装置です。
真空中で試料表面に電子ビームを照射し、試料から出てくる二次電子や反射電子及び特性X線などを測定することで、物質の表面形状や構成元素などを非破壊で観察及び分析することができます。
仕様 【電子銃】
Wフィラメント
【倍率】
×5~×300,000倍
【最大試料サイズ】
直径200mm、高さ80mm
【低真空度設定】
6~650Pa
【EDX】
株式会社堀場製作所 X-Max20、EX-370
利用対象 依頼試験・機器開放

三次元測定機

依頼試験「長さ測定」「3次元測定機による測定」で使用する装置について、以下の機器を追加導入しました。
機器開放利用については「三次元測定機」をご覧ください。

メーカー
型式
カールツァイス
ACCURA-IIaktiv 9/16/8
三次元測定機(平成25年度整備)
装置概要 本装置は測定物の寸法、形状や図面とのズレ量等を非常に高い精度で測定・評価する装置です。
従来型の接触式センサに加えて、非接触ラインレーザセンサを持つことで、製品全体の三次元形状データ取得や、設計データからのズレ量を測定することができます。また、大型の測定テーブルを持ち、長さが1mを超えるような大きな製品の測定が可能です。
仕様 【測定範囲】
(X,Y,Z):900×1600×800mm
【測定精度】
1.6+L/350[μm]
(自動回転式プローブヘッド使用時、L(mm)は測定長さ)
利用対象 依頼試験・機器開放

平成24年度 整備機器

平成24年度に、財団法人JKAの「公設工業試験研究所設備拡充補助事業」(オートレースの補助金)を利用して整備した機器についてご紹介します。

X線回折装置

依頼試験「X線回折装置による分析」で使用する装置について、以下の機器を導入しました。

メーカー
型式
株式会社リガク
SmartLab(9kW)-RPA
X線回折装置(平成24年度整備)
装置概要 本装置は試料にX線を照射し、相互作用により放射された回折X線の方向と強度を解析することにより、物質内部の結晶構造や結晶性及び配向性等を解析するものです。
本装置導入により従来機能に加えて、微小部および薄膜の結晶構造等の解析並びにナノ粒子の粒径分布の測定も可能となります。
仕様 【出力】45kV、200mA(9kW)
【ターゲット】銅
【ゴニオメータ半径】300mm
【光学系】集中法、平行ビーム、透過小角散乱、微小部、インプレーン光学系及びヨハンソン型結晶によるKα1光学系
利用対象 依頼試験

平成23年度 整備機器

平成23年度に、財団法人JKAの「公設工業試験研究所設備拡充補助事業」(オートレースの補助金)を利用して整備した機器についてご紹介します。

顕微赤外分光分析装置

依頼試験「赤外分光光度計による分析」「赤外分光光度計によるイメージング測定」で使用する装置について、以下の機器を導入しました。

メーカー
型式
サーモフィッシャー サイエンティフィック(株)
Nicolet iN10 MX / iz10
顕微赤外分光分析装置(平成23年度整備)
装置概要 プラスチックを中心とした有機物の定性分析を行う装置です。数μm程度の微小異物の分析も可能です。
仕様 【測定領域】
7800~350cm-1(FT-IR)
7800~650cm-1(顕微FT-IR)
【測定法】透過法、反射法、ATR法
利用対象 依頼試験

電磁波試験測定装置

電波暗室電磁波試験測定装置電磁波障害対策室電磁波試験測定装置シールドルーム電磁波試験測定装置で使用する装置について、以下の機器を追加導入しました。この追加導入により、定期点検や故障等による休止期間を大幅に短縮できます。

メーカー
/型式
EMIレシーバ:アジレント・テクノロジー株式会社/N9038A-508
擬似電源回路網:シュワルツベック/NSLK8126
プリアンプ:SONOMA/310N
電磁波試験測定装置(平成23年度整備)
装置概要 CISPR16-1-1(2010)に適合したEMC試験装置です。放射エミッション測定、伝導エミッション測定などを行います。
仕様 放射エミッション測定:150kHz~6GHz
伝導エミッション測定:9kHz~30MHz
検波器:PK、QPK、CISPR-AVG、CISPR-RMS
利用対象 依頼試験・機器開放

恒温恒湿槽

以下の仕様の機器を平成23年11月に導入いたしました。本所(川口)にある恒温恒湿槽の1台を下記の機器と入れ換えました。

メーカー
型式
エスペック株式会社
PL-2KPH(180℃仕様)
恒温恒湿槽(平成23年度整備)
装置概要 槽内の温度と湿度を(設定可能な範囲内で)任意に設定することができる機器です。これにより、工業製品等の温度、湿度による品質評価試験を行うことができます。
仕様
  • 内法寸法:W500×H750×D600mm
  • 温度範囲:-40~+180℃
  • 湿度範囲:20~98%RH
  • 温湿度制御機能を有し、連続運転、タイマー運転及び各種試験パターンをプログラム運転できます。
  • 試験データを外部メモリ等に保存できるようになりました。
    (詳しくはお問い合わせください)
利用対象 機器開放

平成22年度 整備機器

三次元測定機(開放機器名:高精度三次元測定機(熊谷))

メーカー
型式
株式会社ミツトヨ
LEGEX776
高精度三次元測定機(熊谷)(平成22年度整備)
装置概要 自動車や家電製品の金型や、エンジンのシリンダーブロック等立体・複雑形状の機械部品などの寸法や形状を精密に測定できる。そのほか、CADデータを元にした製品の形状誤差評価や、一般的幾何公差及び形状の測定(真円度、平面度、真直度、円筒度、輪郭度等)が可能。歯車の測定評価も可能。
仕様 測定範囲(X,Y,Z):710×710×580mm
測定精度:MPEE:0.35+L(mm)/1,000[μm] MPEP:0.45μm
利用対象 機器開放、依頼試験

表面粗さ・輪郭形状測定機(熊谷)

メーカー
型式
株式会社東京精密
サーフコム2900DX3-25
表面粗さ・輪郭形状測定機(熊谷)(平成22年度整備)
装置概要 検出器を交換し、表面粗さ測定機または輪郭形状測定機として使用する測定機。
表面粗さ測定機能;ダイヤモンド触針で測定面の微細形状をトレースし、表面粗さパラメータを算出する。微細形状測定も可能。
輪郭形状測定機能;触針で測定物の輪郭形状を記録し、寸法や角度などの幾何形状の解析が可能。そのほか、設計値照合や非球面形状解析・照合も可能。
仕様 共通;測定範囲 X軸:200mm/コラム上下移動量:600mm
表面粗さ測定;Z軸測定範囲:1mm
輪郭形状測定;Z軸測定範囲:50mm/指示精度:±(0.8+|2H|/100)[μm] H=測定高さ(mm)
利用対象 機器開放、依頼試験

画像測定機(熊谷)

メーカー
型式
株式会社ニコン
Nexiv VMR-H3030(タイプ2,カラー)
画像測定機(熊谷)(平成22年度整備)
装置概要 XY軸は画像処理、Z軸は画像またはレーザーオートフォーカスを用いて、測定物の寸法や形状を非接触で測定する装置。
仕様 測定範囲(X,Y,Z):300×300×150mm
測定精度(X,Y1軸):0.6+2L/1000[μm]
測定精度(Z1軸レーザー):0.9+L/150[μm]
L=測定長さ(mm)
利用対象 機器開放、依頼試験

複合サイクル試験機

メーカー
型式
スガ試験機株式会社
CYP-90
複合サイクル試験機(平成22年度整備)
装置概要 金属材料等の素材や無機皮膜・有機皮膜等で表面処理した試験片・製品などを過酷な条件で試験を行い、短期間で耐食性の評価を行う。
仕様 試験槽内寸法(幅×奥行×高):90cm×60cm×50cm
試験サイクル:塩水噴霧、乾燥、湿潤、外気導入の試験状態を設定可能
利用対象 機器開放、依頼試験

平成21年度 整備機器

冷熱衝撃試験機(熊谷)

メーカー
型式
エスペック株式会社
TSA-101L-A
冷熱衝撃試験機(平成21年度整備)
装置概要 急冷・急加熱により熱ストレスを与え試料の評価を行う。鉛フリーはんだの接合評価、プリント基板や実装基板の評価、車載機器の耐久試験、樹脂材料や成形品の耐久試験。
仕様 炉内寸法:W650×H460×D370
試験温度:-65~0、60~200℃
注)試験記録は電子データでの出力のため必要に応じUSBメモリを持参して下さい。
利用対象 機器開放

三次元造形装置(開放機器名:インクジェット式積層造形装置)

メーカー
型式
Objet Geometries
EDEN250
インクジェット式積層造形装置(平成21年度整備)
装置概要 切削工法では困難な自由曲面やアンダーカットなどを持つ3次元複雑形状を実体化(造形)することができる装置。
試作品、モックアップ、形状確認用模型など。
仕様 最大造形サイズ(X:240mm、Y:254mm、Z:200mm)
積層ピッチ 16μm
利用対象 機器開放

万能材料試験機(300kN)(熊谷)

メーカー
型式
株式会社島津製作所
AG-300kNX
万能材料試験機(300kN)(平成21年度整備)
装置概要 引張り・圧縮・3点曲げの強度試験を行う。
仕様 負荷容量 300kN(引張・圧縮) 等級 0.5級
試験速度 0.0005~250mm/min
有効試験幅 595mm
有効引張ストローク:571mm

*詳細はお問い合わせ下さい。
利用対象 機器開放・依頼試験

画像測定機

メーカー
型式
株式会社ニコン
NEXIV VMR-6555
画像測定機(平成21年度整備)
装置概要 XY軸は画像処理、Z軸は画像及びレーザーオートフォーカスを用いて、測定物の寸法や形状を非接触で測定する装置。
仕様 測定範囲(X,Y,Z):650×550×150mm
測定精度[μm]:XY:1.5+2.5L/1,000、1.5+L/150

L(mm)は測定長さ

利用対象 機器開放・依頼試験

平成20年度 整備機器

ICP発光分光分析装置

メーカー
型式
サーモフィッシャー サイエンティフィック株式会社
iCAP6300
ICP発光分光分析装置(平成20年度整備)
装置概要 金属材料、樹脂、粉末試料中の微量元素測定
仕様
  • マルチ方式
  • 多元素同時分析(ほとんど全ての元素に対応)
利用対象 依頼試験

波長分散型蛍光X線分析装置

メーカー
型式
株式会社リガク
ZSX primusII
波長分散型蛍光X線分析装置(平成20年度整備)
装置概要 鉄鋼試料の定量分析、非鉄金属、粉末試料等の定性分析
仕様
  • 上面照射型
  • 測定元素 Be~U
利用対象 機器開放・依頼試験

平成19年度 整備機器

原子吸光光度計

メーカー
型式
株式会社アナリティクイエナ ジャパン
ZEEnit700
原子吸光光度計(平成19年度整備)
装置概要 金属材料中の元素測定
仕様
  • フレーム/ファーネス一体型
  • Mg,Al,K,Ca,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,Pd,Ag,Cd,Sn,Pt,Au,Pb等
    33元素に対応
利用対象 依頼試験

平成18年度 整備機器

炭素硫黄分析装置

メーカー
型式
株式会社堀場製作所
EMIA-920V
炭素硫黄分析装置(平成18年度整備)
装置概要 鉄鋼や非鉄及び新素材中に含まれる炭素及び硫黄の測定
仕様 測定範囲:
炭素 0~6wt%
硫黄 0~1wt%
(検出下限値は試料により異なります)
利用対象 機器開放・依頼試験

平成17年度 整備機器

水銀測定装置

メーカー
型式
日本インスツルメンツ株式会社
MA-2000システム
水銀測定装置(平成17年度整備)
装置概要 金属、樹脂中の水銀測定
仕様
  • 還元気化法
  • 測定範囲:0.002ng~1000ng
    (本装置で測定する場合、マイクロウェーブでの試料分解が必要です)
利用対象 依頼試験

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