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掲載日:2023年6月26日

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分析走査電子顕微鏡(SEM-EDX)による分析 定性分析

大分類/中分類 分析/機器分析
試験の内容

試験の内容

固体試料表面の定性分析(どんな元素があるかを調べる)。

主な測定試料

〇製品に混入した異物や付着物(構成元素の分析、素材との比較)
〇未知のめっきやコーティングした製品(構成元素の分析)
〇めっき不良の製品(不良部に素材以外の元素があるかを分析)
〇変色や染みが見られる製品(変色部、染み部と通常部の元素を分析)
〇鋳物、ダイカスト製品(鋳造不良部に素材以外の元素があるかを分析)
〇腐食した製品
※金属やセラミックスなどの無機物が対象です。液体は分析できません。
※近県(群馬県、栃木県、茨城県、東京都、千葉県、長野県、山梨県、新潟県、神奈川県、福島県等)

    のお客様もご利用いただいています。

キーワード

異物、付着物、不純物、欠け、変色、色むら、色ムラ、微小、メッキ、鍍金、ふくれ、膨れ、割れ、

鋳造欠陥、砂かみ、ピンホール、FC、ねずみ鋳鉄、FCD、球状黒鉛鋳鉄、鋳鋼、AC、ADC、ZDC、

アルミ、亜鉛、ダイカスト、ダイキャスト、腐食、孔食、検査、SEM、電子顕微鏡、EDS、EDX、

エネルギー分散、X線分析

成績書の内容 測定チャート及び電子顕微鏡写真  成績書写真例(PDF:376KB)  成績書スペクトル例(PDF:413KB)
試料持ち込み時の注意 試料の形状により異なります。詳しくは、担当者と相談してください。
その他の注意 H、He、Liは分析できません
単位 1試料1測定
金額 14,800円(1測定を増すごとに、4,020円を加える)
装置外観等

SU3500  JSM-IT300LA

            (本所)                                                                  (北部研究所)

※異なる装置で試験する場合もあります。

測定事例

金属片(表面)  金属片(断面)

試料サンプル:金属片(ステンレス)(左ー表面、右ー断面)

備考 ・機器利用をご希望の方は【機器利用:X線マイクロアナライザ(分析走査電子顕微鏡)(川口)】又は【機器利用:X線マイクロアナライザ(分析走査電子顕微鏡)(熊谷)】をご確認ください。
本試験に関するお問合せ先

【本所(川口市)】
・電話 048-265-1369(材料技術・事業化支援室  材料技術担当)

【北部研究所(熊谷市)】

・電話 048-521-0614(材料・機械技術担当)

※詳しい試験内容や試料、測定条件等については、ご相談・お問合せください。
※試料を加工、採取する前に、一度お問合せください。

 

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