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掲載日：2019年10月1日
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分析走査電子顕微鏡(SEM-EDX)による分析 マッピング
| 大分類／中分類 | 分析／機器分析 |
|---|---|
| 試験の内容 | 固体試料表面の定性分析。 |
| 成績書の内容 | 測定チャート及び電子顕微鏡写真 |
| 試料持ち込み時の注意 | 試料の形状により異なります。詳しくは、担当者と相談してください。 |
| その他の注意 | H、He、Liは分析できません |
| 単位 | 1試料1測定 |
| 金額 | 20,900円 |
※詳しい試験内容や試料、測定条件等については、ご相談・お問合せください。
※試料を加工、採取する前に、一度お問合せください。
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