分析走査電子顕微鏡(SEM-EDX)による分析 マッピング

試験の内容

固体試料表面の元素分布分析（元素がどのように分布してるかを調べる）。

主な測定試料

〇製品に混入した異物や付着物（構成元素の分析、素材との比較）
〇未知のめっきやコーティングした製品（構成元素の分析）
〇めっき不良の製品（不良部に素材以外の元素があるかを分析）
〇変色や染みが見られる製品（変色部、染み部と通常部の元素を分析）
〇鋳物、ダイカスト製品（鋳造不良部に素材以外の元素があるかを分析）
〇腐食した製品
※金属やセラミックスなどの無機物が対象です。液体は分析できません。
※近県（群馬県、栃木県、茨城県、東京都、千葉県、長野県、山梨県、新潟県、神奈川県、福島県等）

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キーワード

異物、付着物、不純物、欠け、変色、色むら、色ムラ、微小、メッキ、鍍金、ふくれ、膨れ、

割れ、鋳造欠陥、砂かみ、ピンホール、FC、ねずみ鋳鉄、FCD、球状黒鉛鋳鉄、鋳鋼、AC、ADC、

ZDC、アルミ、亜鉛、ダイカスト、ダイキャスト、腐食、孔食、検査、SEM、電子顕微鏡、EDS、

EDX、エネルギー分散、X線分析