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掲載日:2019年10月1日

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X線マイクロアナライザ(分析走査電子顕微鏡)

機器番号 512
機器分類 分析機器
メーカー名 日本電子株式会社
型番等 JSM-IT300LA
装置概要 観察試料に電子線を走査し、発生した二次電子、反射電子や特性X線を検出し表面観察や分析をする装置。
主な仕様 電子銃:Wフィラメント、倍率:5~300,000倍、最大試料サイズ:51mm径×35mm高、低真空圧力設定範囲:10~650Pa、分析検出器:エネルギー分散型、検出可能元素:Be~U
研修レベル

2

有料の操作研修の受講が必要です。詳しくは表下「操作研修概要」をご覧ください。

使用料(1時間当たり) 3,700円
装置写真 分析走査電子顕微鏡
操作研修概要

研修日程:11月20日(水曜日) (全日)

募集人数:3人以内

受講料金:4,000円

問合せ先:048-521-9113(材料・機械技術担当(熊谷))

備考:研修は年3回を予定しています。

※指導員の指導を受けて機器を利用する場合は、使用料の他に指導料が1時間あたり2,500円かかります。
※一部の機器は、事前に研修を受ける必要があります。詳しくは、研修の受講方法をご覧ください。
※機器の利用時に必要となる一部の消耗品については、使用量に応じて実費精算できます。詳しくは、消耗品精算をご覧ください。

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