走査型電子顕微鏡(SEM)

分析装置としてのご利用をご希望の場合は「X線マイクロアナライザ(分析走査電子顕微鏡)」をご覧ください。
初めてご利用のお客様は、所定の操作研修の受講による操作技術認定証の取得が必要になります。詳しくはお気軽にお問合せください。

※新設備の概要については、こちらもご覧ください。

機器番号	22-1
機器分類	表面観察機器
メーカー名	株式会社日立ハイテク
型番等	SU3500
装置概要	観察試料に電子線を走査し、発生した二次電子や反射電子を検出し表面観察をする装置。 ※観察装置のみです。分析装置としてのご利用をご希望の場合は、「X線マイクロアナライザ(分析走査電子顕微鏡)」をご覧ください。
主な仕様	電子銃：Wフィラメント、 倍率：5～300,000倍、 最大試料サイズ：200mm径×80mm高、 低真空度設定：6～650Pa
研修レベル	2 有料の操作研修の受講が必要です。詳しくは表下「操作研修概要」をご覧ください
使用料（1時間当たり）	310円
装置写真

 

操作研修概要	半日コースの研修受講が必要です。 研修費用：2,500円/1人 制限事項：受講人数は1社2名以内とします。 詳細は、下記担当までお問合せください。 問合せ先：048-265-1369(材料技術担当)

※指導員の指導を受けて機器を利用する場合は、使用料の他に指導料が1時間あたり2,500円かかります。
※一部の機器は、事前に研修を受ける必要があります。詳しくは、研修の受講方法をご覧ください。
※機器の利用時に必要となる一部の消耗品については、使用量に応じて実費精算できます。詳しくは、消耗品精算をご覧ください。