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掲載日:2024年3月31日

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表面観察機器

機器

No.

機器名称 使用料
(円/h)
連絡先
505 集束イオンビーム加工観察装置(FIB-SEM) 5,920 川口
22-1 走査型電子顕微鏡(SEM) 310 川口
21 光学顕微鏡(複合機能型)(倒立型金属顕微鏡) 240 川口
27 光学顕微鏡(単機能型) 90 川口
24 実体顕微鏡(低倍率デジタルマイクロスコープ) 150 川口
25 試料研磨器 240 川口
26 切断・研磨器 130 川口
28 試料埋込器 140 川口
29 イオンスパッタリング装置 110 川口
518 デジタルマイクロスコープ 550 川口
131 高感度微分干渉顕微鏡 170 熊谷

開放機器を利用する場合は、開放機器 利用方法および機器操作研修 受講方法をご覧ください。

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