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掲載日：2025年1月29日
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走査型電子顕微鏡による試験(川口)
| 大分類／中分類 | 材料試験／組織試験 |
|---|---|
| 試験の内容 |
試験内容表面形状の拡大観察（凹凸の観察、粉体の大きさ・形状の観察、破断面の形状観察など)。 主な測定試料金属、非金属（固体）、粉体、金属破断面、めっき等の断面 キーワード電子顕微鏡（SEM）観察、表面形状、粒子形状、金属破断面、断面、ナノテクノロジー |
| 成績書の内容 | 電子顕微鏡写真 成績書例（PDF：2,865KB） |
| 試料持ち込み時の注意 | 顕微鏡に導入可能なサイズは使用する装置により異なります。 導入サイズへの切断は当センターでも可能ですが、大きさ・材質によっては事前に切断をお願いする場合があります。 また破壊解析の場合は、切断に注意を要しますので、切断する前にまず担当者と相談してください。 真空中での観察になるため、含水・含油状態での観察はできません。 |
| その他の注意 | 別途、試験片調製の料金をいただく場合があります。詳しくは担当者と相談してください。 |
| 単位 | 1試料1測定 |
| 金額 | 6,800円 |
| 装置外観等 |
※写真とは異なる電子顕微鏡で試験を行う場合もあります。 |
| 測定事例 |
ネジの破断面観察。 疲労破壊及び延性破壊と呼ばれる破損の典型的な経過が確認されたことなどから、繰り返し使用による疲労破壊の可能性が高いことが推測された。 関連動画へ（SAITEC支援サービス紹介～破損原因調査編～）（別ウィンドウで開きます）
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本試験に関するお問合せ先 |
048-265-1369（材料技術・事業化支援室 材料技術担当） |
※詳しい試験内容や試料、測定条件等については、ご相談・お問い合わせください。
※試料を加工、採取する前に、一度お問い合わせください。
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