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掲載日：2024年6月13日
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膜厚測定 蛍光X線微小部分析計(EDX)によるもの
| 大分類／中分類 | 材料試験／表面処理試験 |
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| 試験の内容 |
試験内容・蛍光X線微小部分析計（エネルギー分散型蛍光X線分析装置）による、非破壊のめっき膜厚測定です。 ※埼玉県外のお客様も、ご依頼いただいています。 主な測定試料自動車部品や装飾品などのめっき膜厚測定 キーワードめっき、膜厚、蛍光X線、XRF、エネルギー分散型、EDX、非破壊
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| 成績書の内容 | 膜厚測定値（µm） 成績書例（PDF：83KB） |
| 試料持ち込み時の注意 |
【最大試料サイズ】W250×D200×H150mm 【耐荷重】5kg 【段差】15mm以内 【測定範囲】1～20μm程度 ・素材とめっき層が同一または含有されている場合は測定できません。 ・樹脂上のめっきは測定できません。 ※詳しくは、担当者と相談してください。 |
| 単位 | 1試料1層 |
| 金額 | 2,500円(1層を増すごとに＋280円) |
| 装置外観等 |  |
| 測定事例 |
鋼板の亜鉛めっき、電子部品のスズめっきなど、めっきの品質管理などが可能です。 |
| 備考 |
・本機器は、平成26年度経済産業省補正予算事業「地域イノベーション協創プログラム補助金（地域オープンイノベーション促進事業）」により整備しました。 ・機器利用をご希望の方は【機器利用：蛍光X線微小部分析計(EDX)】をご確認ください。 |
| 本試験に関するお問合せ先 |
・電話 048-265-1369（材料技術・事業化支援室 材料技術担当） |
※詳しい試験内容や試料、測定条件等については、ご相談・お問い合わせください。
※試料を加工、採取する前に、一度お問い合わせください。
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