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掲載日:2019年10月1日

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走査型電子顕微鏡

「走査型電子顕微鏡」を更新しましたので、平成26年4月から機器利用を再開します。皆様のご利用をお待ちしています。
なお、分析装置としてのご利用をご希望の場合は「X線マイクロアナライザ(分析走査型電子顕微鏡)」をご覧ください。
初めてご利用のお客様は、所定の操作研修の受講による操作技術認定証の取得が必要になります。詳しくはお気軽にお問い合わせください。

※新設備の概要については、こちらもご覧ください。

機器番号 22-1
機器分類 表面観察機器
メーカー名 株式会社日立ハイテクノロジーズ
型番等 SU3500
装置概要 観察試料に電子線を走査し、発生した二次電子や反射電子を検出し表面観察をする装置。
※観察装置のみです。分析装置としてのご利用をご希望の場合は、「分析機能付き走査型電子顕微鏡」をご覧ください。
主な仕様

電子銃:Wフィラメント、

倍率:5~300,000倍、

最大試料サイズ:200mm径×80mm高、

低真空度設定:6~650Pa

研修レベル

2

有料の操作研修の受講が必要です。詳しくは表下「操作研修概要」をご覧ください

使用料(1時間当たり) 310円
装置写真 機器の写真

 

操作研修概要  研修日程:毎月第3水曜日 (半日)

募集人数:3人程度(1社1人まで)

受講料金:2,000円

問合せ先:048-265-1369(材料技術担当)

※指導員の指導を受けて機器を利用する場合は、使用料の他に指導料が1時間あたり2,500円かかります。
※一部の機器は、事前に研修を受ける必要があります。詳しくは、研修の受講方法をご覧ください。
※機器の利用時に必要となる一部の消耗品については、使用量に応じて実費精算できます。詳しくは、消耗品精算をご覧ください。

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