ページ番号:142976
掲載日:2025年3月31日
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機器 No. |
機器名称 | 使用料 (円/h) |
連絡先 |
|---|---|---|---|
| 505 | 集束イオンビーム加工観察装置(FIB-SEM) | 5,920 | 川口 |
| 22-1 | 走査型電子顕微鏡(SEM) | 310 | 川口 |
| 21 | 光学顕微鏡(複合機能型)(倒立型金属顕微鏡) | 240 | 川口 |
| 27 | 光学顕微鏡(単機能型) | 90 | 川口 |
| 24 | 実体顕微鏡(低倍率デジタルマイクロスコープ) | 150 | 川口 |
| 25 | 試料研磨器 | 240 | 川口 |
| 26 | 切断・研磨器 | 130 | 川口 |
| 28 | 試料埋込器 | 140 | 川口 |
| 29 | イオンスパッタリング装置 | 110 | 川口 |
| 518 | デジタルマイクロスコープ | 550 | 川口 |
| 131 | 高感度微分干渉顕微鏡 | 170 | 熊谷 |
試験研究機器を利用する場合は、試験研究機器 利用方法および機器操作研修 受講方法をご覧ください。
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