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観察サンプル：カッター腐食部 ※『分析走査電子顕微鏡（SEM-EDX）による分析 （マッピング）』の成績書にマイクロスコープ画像は付属しません。 図：分析走査電子顕微鏡（SEM-EDX）のカラーマップ（成績書別紙） 図：カッター（樹脂包埋）のマイクロスコープ画像

https://www.pref.saitama.lg.jp/documents/143153/sample_sem-edx_mapping.pdf種別：pdf サイズ：202.136KB

埼玉県産業技術総合センター分析走査電子顕微鏡による試験二次電子像反射電子像カッター腐食部

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果は、上記のとおりです。 令和〇年〇月〇日化学成分 [単位] 記号六価クロム (Cr6+) [mg] 依頼事項分光光度計による定量分析（Cr6+） ※依頼事項の明細については、依頼試験依頼書に記載のとおりです。 成績書番号(当センターが付与する受付番号を連番で記載）

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３－１２－１８ 団体名株式会社saitec 代表者名又は氏名依頼品名〇〇〇〇〇 依頼事項その他の依頼試験エネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置による分析（マッピング） 記試験結果：別紙のとおり使用機器：株式会社日立ハイテクサイエンスEA6000VX 以上令和〇年〇〇月〇〇日付

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表的な試料群の名称） 依頼事項 ※依頼事項の明細については、依頼試験依頼書に記載のとおりです。 重量法による分析（非鉄金属）（Si） 記 1.試料：持ち込み 2.試験方法：Si・・・ 3.試験実施場所（試験所所在地）：埼玉県川口市上青木3-12-18埼玉県産業技術

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表的な試料群の名称） 依頼事項 ※依頼事項の明細については、依頼試験依頼書に記載のとおりです。 重量法による分析（鉄鋼）（Si） 記 1.試料：持ち込み 2.試験方法：Si・・・JIS G 1212鉄及び鋼－けい素定量方法附属書１二酸化けい素重量法(1) 3.試験実施場

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木３－１２－１８ 団体名株式会社saitec 代表者名又は氏名依頼品名〇〇〇〇〇 申請事項その他の依頼試験膜厚測定（蛍光Ｘ線微小部分析計によるもの） 記試験片記号膜厚（μm） 備考 Zn ①〇.〇 ②〇〇.〇 ③〇.〇 以下余白備考使用機器：(株)日立ハイテクサイエンス製EA6000VX 令和〇年〇〇月〇〇日付けで依

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により、 成長が加速しています。 国内シェア第1位 15.9% ※株式会社アイ・ティ・アール「ITR MARKET VIEW DBMS/BI市場 2018」データ分析／レポーティング市場：ベンダー別売上金額推移およびシェア(2016年度) 2013 2014 2015 2016 2017 （億円） 30 32 37 42 54 Dr.Sum SPA MotionBoard ソリューションデ

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上げ、地域の新たな課題として解決に向けた努力を積み重ねていく必要があります。 何が問題だったのかを正しく分析し、対応を工夫していくことが、 保育所等訪問支援の「対応力」「総合力」を身につけることに繋がっていきます。 支援内容

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らに強化・充実を図るべき点（事業所等の強み）や、課題や改善すべき点 （事業所等の弱み）を職員全員の共通理解の下で分析し、課題や改善すべき点と考えられる事項について、速やかにその改善を図る必要がある。 〇事業所等の自己評価の結

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