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ページ番号:143124

掲載日:2019年10月1日

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X線回折装置による分析

大分類/中分類 分析/機器分析
試験の内容 X線回折測定および物質同定。
成績書の内容 測定チャートおよびJCPDSマッチングデータ
試料持ち込み時の注意 粉末試料の場合は数g必要で、粉末状でない場合は厚さ2mmまで。主要構成元素が判明していなければ物質同定は原則できません。
単位 1試料1測定
金額 9,770円

※詳しい試験内容や試料、測定条件当については、ご相談・お問い合わせください。

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