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掲載日:2024年1月12日

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分析走査電子顕微鏡(SEM-EDX)による分析 マッピング

大分類/中分類 分析/機器分析
試験の内容

試験の内容

固体試料表面の元素分布分析(元素がどのように分布してるかを調べる)。

主な測定試料

〇製品に混入した異物や付着物(構成元素の分析、素材との比較)
〇未知のめっきやコーティングした製品(構成元素の分析)
〇めっき不良の製品(不良部に素材以外の元素があるかを分析)
〇変色や染みが見られる製品(変色部、染み部と通常部の元素を分析)
〇鋳物、ダイカスト製品(鋳造不良部に素材以外の元素があるかを分析)
〇腐食した製品
※金属やセラミックスなどの無機物が対象です。液体は分析できません。
※近県(群馬県、栃木県、茨城県、東京都、千葉県、長野県、山梨県、新潟県、神奈川県、福島県等)

    のお客様もご利用いただいています。
 

キーワード

異物、付着物、不純物、欠け、変色、色むら、色ムラ、微小、メッキ、鍍金、ふくれ、膨れ、

割れ、鋳造欠陥、砂かみ、ピンホール、FC、ねずみ鋳鉄、FCD、球状黒鉛鋳鉄、鋳鋼、AC、ADC、

ZDC、アルミ、亜鉛、ダイカスト、ダイキャスト、腐食、孔食、検査、SEM、電子顕微鏡、EDS、

EDX、エネルギー分散、X線分析

成績書の内容 マッピング画像及び電子顕微鏡写真
試料持ち込み時の注意 試料の形状により異なります。詳しくは、担当者と相談してください。
その他の注意 H、He、Liは分析できません
単位 1試料1測定
金額 20,900円

※詳しい試験内容や試料、測定条件等については、ご相談・お問合せください。
※試料を加工、採取する前に、一度お問合せください。

 

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